| Tipo di analisi | Tipo di prova | Normativa di riferimento | Codice |
| Spettroscopia UV-Vis-Nir | Analisi proprietà ottiche di film e soluzioni | I 1.1 | |
| Materie plastiche – Lastre estruse calandrate di PMMA – Determinazione della trasmissione della luce a 420 nm | UNI EN ISO 7823-2:1998 | I 1.2 | |
| Lastre profilate di materia plastica, che trasmettono la luce, per coperture a parete semplice – Trasmissione della luce | UNI EN 1013-1:1999 | I 1.3 | |
| Simulatore solare | Invecchiamento | I 2.1 | |
| Effetto Fotovoltaico | I 2.2 | ||
| Foto Degradazione | I 2.3 | ||
| Analisi FTIR | Film Materiali e soluzioni | I 3.1 | |
| Gomma sintetica – Determinazione delle caratteristiche di assorbimento degli infrarossi | ASTM D 2702-94(1998) | I 3.2 | |
| Analisi Dielettrica | 1 Hz – 1.2 Ghz | I 4.1 | |
| Analisi dei difetti con ultrasuoni | Su metalli, polimeri ecc. | I 5.1 | |
| Deposizione di film sottili | Deposizione chimica(Chem.Vap. dep.) su dimensioni campioni max 7 x 10 cm | I 6.1 | |
| in atmosfera controllata | I 6.2 | ||
| Misurazione PH | Misurazione a temperatura controllata | I 7.1 | |
| Adesivi – Determinazione del PH – Metodo di prova | UNI EN 1245:2001 | I 7.2 | |
| Materie plastiche da riciclo – Requisiti e metodi di prova – Polietilenetereftalato proveniente da post-consumo destinato alla produzione di fibre – Metodo potenziometrico per la determinazione dell’alcalinità residua | UNI 10667-7:1998 | I 7.3 | |
| Microscopia forza atomica | Rugosità, topografia superficiale | I 8.1 | |
| Microscopia a effetto tunnel | Topografia superficiale con risoluzione nanometrica, misure IV | I 9.1 | |
| Microscopia ottica | Metallografia | I 10.1 | |
| Luce trasmessa polarizzata | I 10.2 | ||
| Controllata in temperatura | I 10.3 | ||
| Microscopia a scansione elettronica (SEM) | Analisi dei materiali mediante Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo (FESEM) | I.11.1 |